书目详细信息
： 片上系统测试设计与优化
书目信息 机读格式(MARC)
| ISBN/价格： | 978-7-03-076918-3:CNY88.00 |
|---|---|
| 作品语种： | chi swe |
| 出版国别： | CN 110000 |
| 题名责任者项： | 片上系统测试设计与优化/.(瑞典) 埃里克·拉森著/.Erik Larsson/.孙仁杰译 |
| 出版发行项： | 北京:,科学出版社:,2024.01 |
| 载体形态项： | x, 314页:;+图:;+26cm |
| 提要文摘： | 本书主要站在系统级的角度阐明模块化SoC测试领域的诸多问题。 《片上系统测试设计与优化》由三部分组成，在概述经典测试方法的基础上，介绍测试大型、模块化和异构SoC面临的挑战和困难，并详细介绍作者团队为克服上述困难所做的研究工作。 |
| 并列题名： | Introduction to advanced system-on-chip test design and optimization eng |
| 题名主题： | 集成电路 芯片 测试 |
| 题名主题： | 集成电路 芯片 设计 |
| 中图分类： | TN407 |
| 中图分类： | TN402 |
| 个人名称等同： | 拉森 著 |
| 个人名称次要： | 孙仁杰 译 |
| 记录来源： | CN NMU 20231219 |
| 记录来源： | CN YNAU 20240513 |