书目详细信息
： 嵌入式系统中的辐射效应
书目信息 机读格式(MARC)
| ISBN/价格： | 978-7-111-58286-1:CNY79.00 |
|---|---|
| 作品语种： | chi eng |
| 出版国别： | CN 110000 |
| 题名责任者项： | 嵌入式系统中的辐射效应/.(法) 拉乌尔·委拉兹克, 帕斯卡·弗埃雷特, (巴) 里卡多·赖斯 ... 等著/.Raoul Velazco, Pascal Fouillat, Ricardo Reis/.黄云 ... [等] 译 |
| 出版发行项： | 北京:,机械工业出版社:,2018.01 |
| 载体形态项： | 234页:;+图:;+24cm |
| 丛编项： | 国际电气工程先进技术译丛 |
| 提要文摘： | 本书从环境、效应、测试、评价、加固和预计等方面全面详细介绍了嵌入式系统中的辐射效应，主要内容包括空间辐射环境、微电子器件中的辐射效应、电子器件的在轨飞行异常、多层级故障效应评估、基于脉冲激光的单粒子效应测试和分析技术、电路的加固方法及自动化工具、辐射效应试验测试设备以及数字架构的错误率预计方法等。 |
| 并列题名： | Radiation effects on embedded system eng |
| 题名主题： | 微型计算机 嵌入式系统 系统设计 |
| 中图分类： | TP360.21 |
| 个人名称等同： | 委拉兹克 著 |
| 个人名称等同： | 弗埃雷特 著 |
| 个人名称等同： | 赖斯 著 |
| 个人名称次要： | 黄云 译 |
| 记录来源： | CN XJT 20180301 |