书目详细信息
： 半导体器件可靠性
书目信息 机读格式(MARC)
| ISBN/价格： | CNY0.94 |
|---|---|
| 作品语种： | chi |
| 出版国别： | CN 110000 |
| 题名责任者项： | 半导体器件可靠性/.《半导体器件可靠性》编写组编 |
| 出版发行项： | 北京:,国防工业出版社:,1978.03 |
| 载体形态项： | 379页:;+20cm |
| 提要文摘： | 本书论述了影响半导体分立器件和集成电路可靠性问题的各种因素及其解决办法，并对正在研究的课题也作了介绍。 |
| 题名主题： | 半导体器件 电子产品可靠性 |
| 中图分类： | TN305 |
| 团体名称等同： | 《半导体器件可靠性》编写组 编 |
| 记录来源： | CN YNAU 20070316 |