书目详细信息
： 纳米CMOS集成电路中的小延迟缺陷检测
书目信息 机读格式(MARC)
| ISBN/价格： | 978-7-111-52184-6:CNY59.90 |
|---|---|
| 作品语种： | chi eng |
| 出版国别： | CN 110000 |
| 题名责任者项： | 纳米CMOS集成电路中的小延迟缺陷检测/.(美) 桑迪普 K. 戈埃尔, (印) 科瑞申恩度·查克拉巴蒂主编/.= Sandeep K. Goel, Krishnendu Chakrabarty/.续海涛等译 |
| 出版发行项： | 北京:,机械工业出版社:,2016.01 |
| 载体形态项： | 191页:;+24cm |
| 丛编项： | 国际信息工程先进技术译丛 |
| 相关题名附注： | 封面英文题名:Testing for small-delay defects in nanoscale CMOS integrated circuits |
| 提要文摘： | 本书分时序敏感ATPG、超速、替代方案、SDD的测量标准4个部分，共十章，内容包括小延迟缺陷测试的基本原理、K最长路径、筛选小延迟缺陷的超速测试等。 |
| 并列题名： | Testing for small-delay defects in nanoscale CMOS integrated circuits eng |
| 题名主题： | 纳米材料 CMOS电路 缺陷检测 |
| 中图分类： | TN432 |
| 个人名称等同： | 戈埃尔 桑迪普 K. 主编 |
| 个人名称等同： | 查克拉巴蒂 科瑞申恩度 主编 |
| 个人名称次要： | 续海涛 译 |
| 记录来源： | CN YNAU 20171030 |