书目详细信息
： 光电子器件微波封装和测试
书目信息 机读格式(MARC)
| ISBN/价格： | 978-7-03-019198-4:CNY48.00 |
|---|---|
| 作品语种： | chi |
| 出版国别： | CN 110000 |
| 题名责任者项： | 光电子器件微波封装和测试/.祝宁华著 |
| 出版发行项： | 北京:,科学出版社:,2007.07 |
| 载体形态项： | xiv, 292页:;+图:;+24cm |
| 丛编项： | 半导体科学与技术丛书 |
| 一般附注： | 中国科学院科学出版基金资助出版 “十一五”国家重点图书出版规划项目 |
| 提要文摘： | 全书共十一章，内空包括半导体激光器、光调制器和光探测器、三种典型高速光电子器件的微波封装设计、网络分析仪扫频测试法、小信号功率测试法等。 |
| 并列题名： | Microwave design and characterization of optoelectronics devices and packaging eng |
| 题名主题： | 光电器件 封装工艺 |
| 题名主题： | 光电器件 测试技术 |
| 中图分类： | TN36 |
| 中图分类： | TN15 |
| 个人名称等同： | 祝宁华 著 |
| 记录来源： | CN BUA 20070919 |
| 记录来源： | CN YNAU 20071226 |